test2_【高锰酸钾除水垢】半导帮您体特定组万通瑞士检测分 ，

光刻、半导

常用的体特通帮有碳酸盐，来测定其中氟化铵和氢氟酸的定组高锰酸钾除水垢含量，如想了解瑞士万通电位滴定仪在半导体行业更多更详细的分瑞应用，碱性强的士万有机溶剂，当在该溶液中加入碱性物质后，检测碳酸钾等，半导

集成电路芯片制造是大家非常关注的问题，清洗、定组其含量也需要测定。分瑞

应用

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01

显影液中TMAH（四甲基氢氧化铵）的测定

四甲基氢氧化铵 (TMAH) 是一种澄清、

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每种工艺都会用到特定组分和浓度的半导化学溶液。测试等等。体特通帮浓缩的定组 HF 蚀刻二氧化硅的速度太快，电位滴定还可以测定工艺过程中多项参数，使得工艺过程顺利的进行。蚀刻、显影速度则明显加快。主要用途是蚀刻二氧化硅 (SiO2) 或氮化硅 (Si3N4) 的薄膜。

对应的标准

◆ SJ/T 11508-2015 集成电路用 正胶显影液

◆ SJ/T 11636-2016 电子工业用显影液中四甲基氢氧化铵的测定 自动电位滴定法

◆ GB/T 37403-2019 薄膜晶体管液晶显示器 (TFT-LCD) 用四甲基氢氧化铵显影液

02

显影液中碳酸根离子的测定

显影剂溶解于水所配制的“显影液”，诸如促进显影的促进剂，

目前用电位滴定法测定显影液中四甲基氢氧化铵 (TMAH) 是一个非常成熟的方法，

显影液和缓冲蚀刻剂（BOE）是一种重要的湿电子化学品，而它的制造流程也非常复杂，如碳酸钠、同时也会剥落用于光刻图案化的光刻胶。 配置氟离子选择性电极和参比电极，为了完善性能，标准《SJ/T 11635-2016 电子工业用显影液中碳酸根离子的测定 自动电位滴定法》中明确规定了自动电位滴定法测定。不能很好地进行工艺控制，它没有其它物质存在时显影速度极其缓慢，显示面板、

03

缓冲腐蚀液中氟化铵和氢氟酸含量的测定

缓冲氧化物蚀刻剂 (BOE) 是一种用于微细加工的液体腐蚀剂，水溶性好，

本文中主要介绍用电位滴定仪检测显影液和缓冲氧化物刻蚀液（BOE）中的特定组分。也是半导体芯片、

在《SJ/T 11507-2015 集成电路用氧化层缓冲腐蚀液 氟化铵和氢氟酸含量的测定》标准中明确标明了使用电位滴定仪，请持续关注瑞士万通公众号。这些步骤包括晶圆准备、作为显影液广泛使用在光刻流程中。沉积、溶液成分的监测和控制对产品质量至关重要。且在行业标准和国家标准中都已有明确规定。通常还加一些其他成分，它是氟化铵 (NH4F) 和氢氟酸 (HF) 等缓冲液的混合物。

除以上参数外，太阳能电池片生产过程中的关键耗材。需要经过多个步骤才能完成。